作者:来源:机械工程国家级实验教学示范中心发布时间:2023-06-19浏览次数:27
设备名称:
光学干涉测量系统
型号:
CPTMK100
主要功能:
1、该仪器主要用于高等院校物理实验中观察光的干涉现象(等厚条纹、等倾条物、白光彩色条纹),测定单色光波长,测量薄膜厚度。教学型干涉仪利用显示器或大屏幕观察干涉仪光路结构。附加适当装置,还可以扩大实验范围(如测磁致伸缩系数,空气折射率,测量热膨胀系数等)。
实验项目:
光学干涉测量